高低角型颅面侧貌水平生长研究

2015-12-26 14:12  来源:口腔医学研究
作者:林新平 林久祥 Arild Stenvik 阅读量:85

[摘要]  目的:探讨高低角型男孩颅面部软组织侧貌在水平方向的生长变化。方法:根据Bjork前颅基底稳定结构重迭法,头影测量20名男孩在自然头势状态下9、12、15和18岁的X线头颅定位侧位片,然后,统计分析颅面部软组织侧貌Ga、N\'、Nasal、Sn、A\'、Ls、Li、B\'、Pg\'及Gn\'各点至垂直平面(Pr-VER)的水平向距离变化以及上下唇至美学平面(E-line)的垂直距离变化。结果:1)高低角型男孩在9~18岁期间额部、鼻根部及唇部与鼻尖的水平距离随年龄增加而增加,而颏部与鼻尖水平距离虽有增加,但在某些阶段其距离反而缩短。2)高角型男孩Ga、N\'、Nasal、Pg\'及Gn\'点到Pr水平距离其各阶段各测量值明显大于低角型,可唇部表现则不同,高角型唇部比低角型表现为更为前突。3)高角型颏部向前生长移动幅度小于低角型,而唇部向前生长幅度明显大于低角型。相对于美学平面,低角型上下唇在9~18岁期间后退幅度明显大于高角型。结论:高低角型男孩颅面部软组织侧貌生长变化存在显著差异,其主要区别在于唇部及颏部。这对正畸临床诊断与治疗具有借鉴作用。

  [关键词]  纵向  面型  面部生长  软组织侧貌  男性

    颅面部软组织侧貌及生长变化是口腔正畸诊治过程中值得密切关注的因素之一。尽管几十年来,学者们[1~9]对颅面部软组织的评判标准、形态特征以及侧貌生长变化进行大量的研究,但对不同错牙合或颅面型青少年的颅面软组织生长变化的研究报道较少[5,6]。更少采用颅外参考平面来研究颅面部软组织的生长变化。本研究通过对高、低角型男孩在自然头势状态下颅面部软组织侧貌水平向的生长变化的纵向比较研究,旨在探讨不同颅面型男孩颅面部软组织侧貌水平向的生长变化,为正畸医生在正畸诊治时提供更有价值的参考依据。

  1  材料与方法

  1.1  样本的选择  本研究样本选自于挪威奥斯陆大学牙学院正畸科生长发育资料库。未经正畸治疗男孩高低角型样本各10名。每例样本分别在9、12、15和18周岁拍摄了X线头颅定位侧位片。各型颅面型样本的选择标准是根据各样本15岁拍摄的头颅定位侧位片下颌平面角(NSL/ML角)的大小来确定[5]。高角型:下颌平面角大于或等于36°,低角型:下颌平面角小于36°[10]。

  1.2  头影测量方法  将每个样本的前后5张X线头颅定位侧位片的重要结构描图,并在9岁的X线片上对S点、N点、Ga、N\'、Nasal、Pr、Sn 、A\'、Li、Ls、B\'、Gn\'、Pg\'点进行定点。然后根据Bjork的前颅基底稳定结构重迭法[11]将N点和S点转移至后面的12岁、15岁和18岁的描绘纸上,此时,转移而至的两点构成参照颅底平面REFcrb。经过测量统计分析,高低角型男孩REFcrb/HOR角平均值分别为10.81°和7.10°。然后,根据这一平均角度来确定经过S点的水平参考平面(HOR)[13],经过鼻尖点(pr点)与HOR垂直的垂直平面(Pr-VER)。将每张硫酸描绘纸上的各定点标志采用数字化仪输入计算机,然后采用Dentofacial Planner计算机测量分析系统(Dentofacial Software,Canada)进行测量分析,分别测得各个样本各阶段Ga、N\'、Nasal、Pr、Sn 、A\'、Li、Ls、B\'、Gn\'和Pg\'点至Pr-VER平面的垂直距离和Ls和Li点至E-line垂直距离的数据,见图1。

  1.3  可靠性分析  所有的头颅定位侧位片均是同一人手工进行描绘、定点、前颅基底稳定结构重迭法参照点及参照平面的转移和数字化输入等测量程序,并重复2次,其间隔4周。如果两次之间测量结果相差超过1 mm,需进行第3次描绘、定点等测量程序,并取其中两次测量结果最相近数值的平均值作为测量最终结果。两次测量的随机误差、系统误差以及可靠系数均在正常要求范围之内[12]。

  1.4  统计分析  采用SPSS12.0统计软件对数据进行重复性多因素方差分析和独立样本t检验分析。

  



编辑: 博文

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