头影测量标志点位置改变对角度测量值的影响

作者:许天民 Sheldon Baumrind  文章来源:实用口腔医学杂志 

2006-12-14 14:33:13         【博客】 【论坛】 【投稿】 【打印】 【关闭

  〔摘要〕 目的:探讨头影测量标志点在治疗前后位置的改变对角度测量值变 化的实际影响。方法:选用48例青少年安氏I类及Ⅱ类错牙 合患者治疗前后的头颅侧位片,以正畸临床常用的4个 具有代表性意义的角度测量项目SNA、ANB、NAPg和UI/SN为因变量,以构成这些角度的头影 测量标志点为自变量进行逐步回归分析,从入选回归方程的标志点及其决定系数大小判断各 标志点位移对相应角度测量值的影响。结果:上述4个角度所作回归 方程的决定系数分别为0.96,0.95,0.39和0.99。结论:除了NAPg, 其它3个角度的变化基本能反映出颌骨及牙齿在矢状方向的位置改变,但SNA角的变化在一定 程度上同时受N点水平向位移的影响,使其反映A点水平向位置改变的可靠性受到影响。

  正畸医师在做全面的诊断设计时,常常使用头颅侧位片,虽然它受放大率、曝光条件、 左右结构重叠、个体差异等因素的影响,使X片上的某些标志点难以精确定位,或测量出的 结果出乎意料,但它仍然是迄今为止能够反映颅、颌、牙结构之间相互关系的最好工具。因 此,确切了解头影测量学中的测量项目所反映的实际位移,对于临床诊断及疗效评价有着非 常重要的意义。纵观各种流行的头影测量分析法,如Steiner分析法〔1〕、Downs分 析法〔2〕、Bjork分析法〔3〕、Ricketts〔4〕等中,以角度测量反映 颅、颌、牙结构关系的项目明显多于线距测量,虽然,角度测量不依赖某个参考坐标系,不 受放大率的影响,使用起来比较方便,但角度改变受3~4个点的共同影响,如SNA角增大, 究竟受上颌骨前移的影响大?还是受上颌骨垂直向发育的影响大,亦或S点或N点在水平或垂 直方向位移的影响大?作为角度与线距测量相互关系的系列研究〔5,6〕的一部分,本 文拟通过实际的临床病例资料,选择临床上常用的SNA、ANB、NAPg及UI/SN(上切牙牙长轴与 前颅底的夹角)4项角度测量项目,采用逐步回归的统计方法,检测构成这些角度的标志点位 移对角度测量值改变的贡献。

  1 材料和方法

  研究样本采自美国太平洋大学正畸临床教授的专家门诊,由48名安氏I类和安氏Ⅱ类的错牙 合患者组成,平均年龄为(10.94±1.67)岁,治疗前后X光片 的时间间隔为(3.97±1.73)年,矫正技术为方丝弓技术,拔4个双尖牙及非拔牙病例半年,X 片头影测量定点由3名旧金山加州大学三年级正畸研究生独立完成并取平均值,角度及线距 测量采用Baumrind〔7〕教授的头影测量软件包。本研究选择了4个具有代表性的角度 测量项目,它们分别是SNA、ANB、NAPg和UI/SN。线距测量采用前颅底结构重叠,以治疗前 头颅侧位片上的FH平面为参考线,计算治疗前后相关标志点的水平及垂直向位移。采用SAS 统计分析软件包,对构成上述角度的标志点位置改变进行前进法逐步回归分析。其基本思想 是:在供选择的数个自变量中,按其对因变量作用的大小,由大到小地把自变量逐个引入回 归方程,每引入一个自变量,就要对它作假设检验,显著时才引入,这样一步步地进行下去 ,直至没有新的显著的自变量可引进方程时为止。

  2 结 果

  样本治疗结束后的SNA角、ANB角、NAPg角及UI/SN角的变化情况见表1。

  以治疗前后SNA、ANB、NAPg、UI/SN的变化分别作为因变量,以构成这些角度的标志点在水 平及垂直方向的位移为自变量进行逐步回归分析的结果见表2~5。

表1 SNA、ANB、NAPg和UI/SN治疗前后的变化

  治疗前 治疗后 治疗变化
SNA 81.41±3.51 79.55±3.91 -1.86±1.99
ANB  4.88±2.15  2.98±1.58 -1.90±1.71
NAPg 170.54±5.28 174.9±3.72 4.37±4.23
UI/SN 102.86±6.15 104.62±7.18 1.76±9.64

表2 以SNA-12为因变量的逐步回归分析

进入

  顺序

进入的

  变量

部分相关

  系数(R)2

决定系

  数(R)2

F P>F
1 Ax-12 0.1608 0.06108 72.1992 0.0001
2 Nx-12 0.3199 0.9307 207.6720 0.0001
3 Ay-12 0.0298 0.9605 33.2238 0.0001

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责任编辑:姚红祥  

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